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前置器330180-51-00
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本特利3500系列监测系统卡/前置器/传感器/线缆/放大器
艾默生DeltaV系列CSI6500/飞利浦/epro监测卡件/前置器/传感器
本特利TK-3E电涡流探头系统校验仪,TK-3 Proximity System Test Kit
校验仪为便携式仪表,通常称作“摆频信号发生器”,用于对电涡流探头进行静态和动态校验。 静态校验通过附加的千分尺完成;动态校验通过一个模拟动态机械振动的特殊旋转“倾斜圆盘”完成。 由于多年来传感器功能的改进以及性能标准更严格,该系统无法按照API670 标准对传感器系统校验提供必需的精度。
TK-3E校准仪模拟轴振动和位移,用以校准监测器。它验证监测器读数装置的工作状态以及电涡流传感器系统的状态。一个正确的校准系统意味着的读数和传感器输入。 一个纺锤形千分尺用于检查传感器系统和校准位移监测器。与TK-3E 一同提供的探头安装接头固定探头,同时被测靶面以被校准的增量向着或远离探头端部运动。前置器的输出由电压计进行记录。
振动监测器使用马达驱动的倾斜圆盘校准。圆盘上面有一个摇臂保持器将电涡流探头固定。通过将保持器和探头调节到适当位置,可以使机械振动大小达到预期值。该机械振动由校准装置中的刻度盘千分尺测量(不需要示波器)。
振动监测器的读数可以与已知的机械振动信号输出(即千分表测出的读数)进行比较。
附件
107360 -01 REBAM. 校验组件: 该组件允许对3300REBAM.传感器系统的正确运行进行校验 组件包括: 1 个高分辨率数字千分尺 ;1个可调节定位计;1个AISI E52100 靶面,模拟滚动轴承的外圈
常用型号
TK-3E,P/N: 177313-02-01;
TK-3E,P/N: 177313-02-02
1756-PA75/PA72 ControlLogix AC Power Supply PLC
1756-PA75R ,ControlLog
1756-PAR2 85-265
1756-PAR2PLC1756PAR21756par2
1756-PB72 ControlLogix18-32VDC/5V@10
1756-PB75 1756-ENBT 1756-TBSH
1756-PB75 ControlLogix 18-32 V
1756-RM ControlLogix
1756-RM2K ControlLogix
1756TBNH 1756-TBNH
1756-TBS6H ControlLogix 10 1756TBS6H
1757-SRM ProcessLogix&ControlLogix
1761-L16BBB MicroLogix 1000 1761L16BBB
1761-L32BWA MicroLogix1000PLC
1761-NET-DNI 1769-PA2 1746-NR4 1769-IQ16F Allen-Bradley
1761-NET-ENI CompactLogix
1762-IF2OF2 1766-L32BWA
1762-IF2OF2 MicroLogix 4
1762-IF4 1762-IQ16 1762-IQ32T
1762-IF4 MicroLogix 4
1762-IQ16 1766-L32BXBA
1762-IQ8 Micrologix PLC
1762-IQ8OW6 1794-OE12 1769-OB16 1756-DNB
1762-IR4 MicroLogix
1762-L24BWA MicroLogix 1200 14
1762-L24BXBR 1762-L40AWA 1762-L40AWAR
1762-L40BWA 1762-L40BWAR 1762-L40BXB
1762-L40BWA MicroLogix 1200,120/240
1762-L40BWAR MicroLogix 1200 PLC1762L40BWAR
1762-OF4 1769-IT6 1762-L40BWA 1784-CF64
1762-OF4 MicroLogix 4
1762-OW16 1762-OW8 1762-OX6I