前置器330180-50-00

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本特利TK-3E电涡流探头系统校验仪，TK-3 Proximity System Test Kit

校验仪为便携式仪表，通常称作“摆频信号发生器”，用于对电涡流探头进行静态和动态校验。 静态校验通过附加的千分尺完成；动态校验通过一个模拟动态机械振动的特殊旋转“倾斜圆盘”完成。 由于多年来传感器功能的改进以及性能标准更严格，该系统无法按照API670 标准对传感器系统校验提供必需的精度。

TK-3E校准仪模拟轴振动和位移，用以校准监测器。它验证监测器读数装置的工作状态以及电涡流传感器系统的状态。一个正确的校准系统意味着的读数和传感器输入。 一个纺锤形千分尺用于检查传感器系统和校准位移监测器。与TK-3E 一同提供的探头安装接头固定探头，同时被测靶面以被校准的增量向着或远离探头端部运动。前置器的输出由电压计进行记录。

振动监测器使用马达驱动的倾斜圆盘校准。圆盘上面有一个摇臂保持器将电涡流探头固定。通过将保持器和探头调节到适当位置，可以使机械振动大小达到预期值。该机械振动由校准装置中的刻度盘千分尺测量（不需要示波器）。

振动监测器的读数可以与已知的机械振动信号输出（即千分表测出的读数）进行比较。

附件

107360 -01 REBAM. 校验组件: 该组件允许对3300REBAM.传感器系统的正确运行进行校验 组件包括: 1 个高分辨率数字千分尺 ;1个可调节定位计;1个AISI E52100 靶面，模拟滚动轴承的外圈

常用型号

TK-3E,P/N: 177313-02-01;

TK-3E,P/N: 177313-02-02 

1769-OF8C  CompactLogix 8

1769-OF8V CompactLogix 8

1769-OV32T  CompactLogix  1769OV32T

1769-OW16 CompactLogix 16AC

1769-PA2  CompactLogix  1769PA2 

1769-PA4 CompactLogix120/2

1769-PB2 CompactLogix

1769-PB4 CompactLogix

1769-RTBN18CompactLogixI/O 1769RTBN18

1769-SDN DeviceNet

1771-A3B1 PLC-5 I/O

1771-OA PLC-5，120V 

1771-OAD PLC-5，120V 

1783-BMS06TL 1783-BMS10CA 1783-BMS10CGA   

1783-ETAP2F

1783-MCF

1783-MS10T 1783-US05T 1783-US08T 1784-CF64   

1783-MS10T  Stratix 8000

1783-MS10T Stratix 8000 

1783-MX08F

1783-NATR Configurle NAT router PLC 1783NATR

1783-US8T Stratix 2000

1784-CF128   Logic 556x

1784-PKTX

1785-L60L

1786-RPA

1786-RPFMCont

1786-TPR   ControlNet T-Tap/

1786-TPS 1786-TPR 1786-TPYS ControlNet